Изучается возможность выявления дефектов в нанопроводниках на основе изменения вольт-амперных характеристик (ВАХ) проводников. Исследование проводится методами компьютерного моделирования транспортных свойств двух типов проводников: без дефектов и с дефектом со структурой «проводникдефектпроводник». На основе сравнительного анализа полученных данных делается вывод о возможности выявления данного типа дефекта.
