| | Данилин, Н. С. Определение физического процесса механизма отказов полупроводников при форсированных испытаниях повышенной температурой [Текст] / Н.С. Данилин, В.П. Улитенко, А.С. Черепнев, К.П. Янов // Радиоэлектроника летательных аппаратов : научно-технич. сб. / ХАИ. — Х. : ХАИ, 1971. — С. 43-46. |
| | |
|