Проведено исследование алгоритмов автоматизированной калибровки оптико-электронных измерительных систем с мат-ричными фотоприемниками по штриховым мерам, в том числе на базе алгоритмов определения максимумов коэффициентов непрерывного вейвлет-преобразования (НВП). Приведены результаты модельных и натурных исследований алгоритмов измерений линейных штриховых мер с использованием различных типов вейвлетов. Показано, что вейвлет MexicanHat детектирует центры штрихов меры, что соответствует нормам метрологической аттестации оптических измерительных систем. Исследования показали, что использование алгоритмов НВП позволяет проводить калибровку оптико-электронных измерительных систем локально по полю изображения штриховой меры с точностью 0,1 пикселя, что в 10 раз выше точности измерения способом совмещения визира со штрихом. Ключевые слова: оптико-электронная измерительная система, непрерывное вейвлет-преобразование, НВП, линейная мера, объект-микрометр.
