Исследованы характеристики планарной двухзеркальной апланатической системы Шварцшильда, позволяющие оценивать эффективность ее применения в устройствах интегральной СВЧ оптики. Получены результаты многокритериальной оптимизации показателей качества системы. Выполнено сравнение апланатической системы и систем с параболическим зеркалом: однозеркальной и двухзеркальной с плоским субрефлектором. Показано, что результаты оптимизации, полученные в приближении физической оптики, хорошо согласуются с результатами анализа и минимизации аберраций в зеркальной системе по предложенному критерию среднеквадратичных аберраций. Приведены характеристики сканирования оптимальных по Парето планарных апланатов.
