|
Автор: Барсуков В.П., Верхогляд А.Г., Герасимов В.В., Глебус И.С., Завьялова М.А., Князев Б.А., Макаров С.Н., Ступак М.Ф., Овчар В.К., Родионов Д.Г., Чопорова Ю.Ю., Штатнов В.Ю.
-
Анотація:
Разработан и изготовлен ближнепольный терагерцовый сканирующий оптический микроскоп с блоком нарушенного полного внутреннего отражения и лазером на свободных электронах в качестве источника излучения. Созданы и испытаны сканирующая система с позиционированием с помощью конфокального датчика с хроматическим кодированием и датчик касания поверхности субволновым зондом. В датчике касания реализован новый метод определения расстояния между зондом и проводящей поверхностью по току коронного разряда. Для работы с импульсным излучением Новосибирского терагерцового лазера на свободных электронах разработана специализированная система синхронного детектирования рассеянного зондом излучения, включающая сверхпроводящий болометр на горячих электронах и электронную схему накопления сигнала. Проведены испытания всех элементов микроскопа, показавшие их работоспособность. Начаты эксперименты по регистрации рассеянного зондом микроскопа терагерцового излучения.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
|
