Описана электронная схема обработки сигнала с многосегментного фотодиодного датчика изгиба кантилевера атомно-силового микроскопа “классической” конструкции, включающая в себя два аналоговых канала выделения разности между фототоками половин приемной площадки, каждый из которых нормируется на сигнал суммарной освещенности фотодиода. Применение современных электронных компонентов позволило расширить рабочую полосу частот отклика традиционной схемы с обычных 200-300 кГц до 2-3 МГц и таким образом подавить фазовые искажения в полосе от нуля до 1 МГц. Благодаря этому при частоте колебания кантилевера до 200 кГц напряжение на выходе схемы может быть с высокой точностью принято в качестве сигнала мгновенного положения острия иглы по отношению к поверхности. Показано, что уровень входных шумов предлагаемой электроники достаточно низок для того, чтобы уверенно наблюдать броуновское движение кантилевера.
