Описано устройство, позволяющее подвергать изгибу монокристаллические образцы для исследования искажений кристаллической решетки на рентгеновских топограммах. Изгиб кристаллов осуществляется по схеме четырехопорной геометрии. Радиусы изгиба могут варьироваться от сотен до десятков метров. Устройство предназначено для работы в рентгеновских спектрометрах A-3 японской фирмы Rigaku Denki и в двухкристальных спектрометрах ДТС-1 ИК РАН.

Приборы и техника эксперимента [Текст] : научный журнал / РАН. — М.

• УДК // Аналіз кристалів із застосуванням рентгенівських променів ( рентгенографічний аналіз )
• УДК // Властивості та структури, виявлені за допомогою рентгенівських променів. Виявлення тонкої структури
• УДК // Дифракція хвиль
• УДК // Спеціальна геометрія і взаємодія з частинками та випромінюванням
• УДК // Фізика конденсованої матерії. Фізика твердого тіла