Рассмотрена задача выбора наилучшего биометрического эталона из группы, построенной по последовательности регистрируемых изображений. Предложен метод, основанный на анализе матрицы расстояний группы эталонов. Осуществлено сравнение со стандартным подходом, использующим признаки качества исходного изображения. Указано, что признаки качества изображения разрабатываются для задачи отбраковки плохих изображений и мало подходят для задачи выбора наилучшего изображения. Вычислительные эксперименты проведены на нескольких базах данных, находящихся в открытом доступе, общим объемом более 70 тыс. изображений. Тесты показывают, что предложенный метод дает несколько лучшее качество выбранных эталонов. При этом он не требует разработки дополнительных мер качества, а использует имеющееся вычисление расстояния.
