Рассмотрено соотношение между “быстрыми” (дрейфовые динамические вольт-амперные характеристики) и “медленными” (квазистатические вольт-амперные характеристики) методами электрофизической диагностики подвижных ионов в структурах металл?диэлектрик?полупроводник. Обсуждена их универсальность. Отмечено, что границы пленки могут быть неблокирующими для ионов. Показано, что быстрые методы можно рассматривать как частный случай медленных.
