К качеству отражающей поверхности крупноапертурных зеркальных антенн при изготовлении радиотелескопов и коллиматоров предъявляются высокие требования. Сложность контроля и юстировки рефлекторов вызвана противоречивыми требованиями высокой точности измерений (порядка десятков мкм) при больших размерах. Представлен радиоголографический метод измерения профилей поверхностей параболических зеркальных антенн по полю в ближней зоне планарным сканером в декартовой системе координат. Приведено подробное математическое описание разработанного метода: выведен алгоритм вычисления неровностей отражателя, определено разрешение измерительной системы. Выполнено моделирование работы представленного метода. Рассматриваемый метод позволяет исследовать стационарные крупноапертурные зеркальные антенны с помощью планарного сканера, габаритные размеры которого меньше раскрыва исследуемой антенны.
