Описываются конструкция с.в.ч.-системы и пользовательский интерфейс и представлены основные характеристики бесконтактного измерителя рекомбинационного времени жизни свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах по спаду фотопроводимости. Особенности конструкции с.в.ч.-системы позволяют отказаться от использования циркуляторов с.в.ч.-волны и других дорогостоящих элементов системы без потери чувствительности измерителя. Это существенно упрощает конструкцию, обеспечивает автоматизированное измерение времени жизни свободных носителей заряда в монокристаллическом кремнии от 0.2 мкс до десятков миллисекунд. Верхний предел измерения определяется геометрическими размерами образца и качеством обработки поверхности. Приведены результаты измерения стандартных образцов времени релаксации фотопроводимости монокристаллического кремния.

Приборы и техника эксперимента [Текст] : научный журнал / РАН. — М.

• УДК // Інші електровимірювальні прилади