Исследована возможность получения сколов образцов трековых мембран из полиэтиленнафталата (ПЭНФ) для электронного микроскопа, позволяющих рассмотреть структуру канала поры на всем протяжении от одной поверхности до другой. Из-за высокой радиационной и термической стойкости полиэтиленнафталатных пленок для них не приемлемы методы термической, ультрафиолетовой и радиационной обработки, применяемые для получения хрупких пленок таких полимеров, как полиэтилентерефталат (ПЭТФ), поликарбонат (ПК) и полипропилен (ПП). Получить хрупкую пленку, ломающуюся с образованием ровного скола, позволила выдержка образцов в парах концентрированной азотной кислоты в течение 1.5 месяцев.
