|
Автор: Маврицкий О.Б., Чумаков А.И., Егоров А.Н., Печенкин А.А., Никифоров А.Ю.
-
Анотація:
Представлен обзор технических средств, используемых в настоящее время для лазерных испытаний изделий микроэлектроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц по локальным радиационным эффектам.
-
Є складовою частиною документа:
-
Теми документа
-
УДК // Дії, що впливають на стан та властивості речовини/Влияние воздействий на состояние и свойства вещества/Influence of influences on a condition and property of substance
-
УДК // Електроніка. Мікроелектроніка
-
УДК // Конструювання електричного кола
-
УДК // Спеціальні методи/Специальные методы/Special Methods
| 