-
Ключові слова:
багатошарові контактні системи, БКС, многослойные контактные системы, МКС ; бар'єр Шотткі, БШ, барьер Шоттки ; електронна мікроскопія, электронная микроскопия ; контактно-металізаційні системи, КМС, контактно-металлизационные системы ; рідкісноземельні елементи, редкоземельные элементы ; резерфордівське зворотнє розсіяння, РЗР, резерфордовское обратное рассеяние, РОР ; рентгенівська дифрактометрія, РД, рентгеновская дифрактометрия ; ядерно-фізичні дослідження, ядерно-физические исследования
-
Теми документа
-
УДК // Елементарні та найпростіші частинки ( заряд, менший ніж З ) альфа-промені, вета-промені, гамма-промені як окремі частинки чи випромінювання
|