|
-
Ключові слова:
інтерференційна мікроскопія, интерференционная микроскопия ; електромагнітне випромінювання, ЕМВ, электромагнитное излучение, ЭМИ ; конструкційні матеріали, конструкционные материалы ; лазерна скануюча мікроскопія, лазерная сканирующая микроскопия ; оптична мікроскопія, оптическая микроскопия ; просвічувальні електроннні мікроскопи, просвечивающие электронные микроскопы ; тривимірна графіка, трехмерная графика ; цифрові зображення, цифровые изображения ; ядерний магнітний резонанс, ядерный магнитный резонанс, ЯМР, nuclear magnetic resonance
-
Теми документа
-
УДК // Випробування матеріалів. Пошкодження матеріалів. Захист матеріалів
-
УДК // Електронна мікроскопія
|
