Зведений каталог бібліотек Харкова

 

537
М64Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пос. / РАН, Ин-т физики микроструктур. — М. : Техносфера, 2005. — 144 с.
ISBN 5-94836-034-2


- Ключові слова:

атомно-силова мікроскопія, АСМ, атомно-силовая микроскопия ; ближнєпольна оптична мікроскопія, ближнепольная оптическая микроскопия ; магнітно-силова мікроскопія, магнитно-силовая микроскопия ; скануючі тунельні мікроскопи, сканирующие туннельные микроскопы ; скануюча зондова мікроскопія, СЗМ, сканирующая зондовая микроскопия

- Теми документа

  • УДК // Електронна мікроскопія



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки 1 Перейти на сайт