комплементарна логіка на транзисторах метал-окид-напівпровідник, КМОН, комплементарная логика на транзисторах металл-оксид-полупроводник,КМОП, CMOS-technology ; мікроструктуровані оптичні волокна, микроструктурированные оптические волокна ; неруйнівний контроль, неразрушающий контроль ; система керування криптографічними ключами, система управления криптографическими ключами ; системи автоматичного керування, САК, системы автоматического управления ; технологічні процеси, ТП, технологические процессы ; фоточутливі прилади, фоточуствительные приборы

Розроблено новий підхід до автоматизованого керування технологічним процесом витягування мікроструктурованих оптичних волокон, який підвищує якість керування, а також дозволяє побудувати систему керування з урахуванням структури перерізу та допусків на геометричні параметри мікроструктурованого волокна. Обгрунтовано використання оптичного неруйнівного методу контролю для аналізу змін внутрішньої структури мікроструктурованого волокна в процесі витягування. Розроблено метод оцінки параметрів формоутворення, який базується на зоновому аналізі динаміки змін коефіцієнтів кореляції й інтегральних показників оптичної інтенсивності зображення перерізу. Отримані математичні вирази, що пов'язують запропонований інтегральний показник з керованим технологічним параметром. Ефективність запропонованих методів експериментально підтверджена під час проведення комп'ютерної та апаратної емуляції процесу контролю.

• УДК // Електричні вимірювання ( методи та прилади)
• Праці співробітників ХНУРЕ // Пономарьова Ганна Вікторівна, Пономарева Анна Викторовна, Ponomaryova Ganna Victorivna