вимірювання, измерения, la mesure, measurements ; напівпровідники, полупроводники, semiconductors, Halbleiter ; світловоди, световоды ; світлодіоди, светодиоды, Lumineszenzdioden ; транзистори, транзисторы, transistors ; фотопровідність, фотопроводимость, photoconduction ; частота, частота

В отчете проанализированы возможности использования существующих методов измерения параметров полупроводниковых материалов при лабораторных исследоааниях их спецстойкости. Даны рекомендации по выбору целесообразных методов. Проведена необходимая детализация выбранных методов и разработаны рекомендации по подбору требующейся аппаратуры, оценке погрешностей, специфике экспериментов. Предложен новый метод измерения продолжительности жизни неосновных носителей тока в полупроводниковых материалах, от которого можно ожидать увеличения точности измерения и некоторого упрощения светооптического узла измерительной установки.

• УДК // Електричні вимірювання ( методи та прилади)
• УДК // Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи