Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Т33    Теоретико-вероятностное обоснование методов метрологической аттестации лазерных информационно-измерительных систем [Текст] : отчет о НИР / МОН України, ХИРЭ ; науч. рук. Л. И. Шкляров ; исполн. В.С. Азарин. — Харьков, 1977. — 72 с.


- Ключові слова:

інформаційно-вимірювальні системи, ІВС, информационно-измерительные системы, ИИС ; атестація, аттестация ; віддалеміри, дальномеры ; метрологічна атестація, метрологическая аттестация ; напівпровідникові лазерні далекоміри, полупроводниковые лазерные дальномеры ; похибки, погрешности, computational errors ; статистична обробка, статистическая обработка ; якість, качество

- Анотація:

Работа посвящена вопросам теоретико-вероятностного обоснования методов аттестации ОКГ-дальномеров.

- Теми документа

  • УДК // Ймовірність. Математична статистика



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки 1 Перейти на сайт