Изучены существующие методы поиска неисправностей, а также представлены инфраструктура и технологии анализа цифровых систем. В работе описаны модель диагностирования функциональности системы на кристалле в виде мультидерева и метод обхода дерева, имплементированный в движок для обнаружения неисправных блоков с заданной глубиной. Модель и метод позволяют существенно увеличить производительность программного и аппаратного обеспечения. СЛОВА: ЦИФРОВЫЕ СИСТЕМЫ НА КРИСТАЛЛЕ, ДИАГНОСТИРОВАНИЕ, ТАВ-МАТРИЦА, ТРАНЗАКЦИОННЫЙ ГРАФ, НЕИСПРАВНОСТЬ, ФУНКЦИОНАЛЬНОЕ ПОКРЫТИЕ, ДИАГНОЗОПРИГОДНОСТЬ, АССЕРЦИЯ, МОДЕЛИРОВАНИЕ Вивчено існуючі методи пошуку несправностей, а також представлені інфраструктура ті технології аналізу цифрових систем. В роботі описані модель діагностування функціональності систем на кристалі у вигляді мультидерева та метод обходу дерева для пошуку несправних блоків із заданою глибиною. Модель та метод дозволяють суттєво збільшити продуктивність програмного та апаратного забезпечення. СЛОВА: ЦИФРОВІ СИСТЕМИ НА КРИСТАЛІ, ДІАГНОСТУВАННЯ, ТАВ-МАТРИЦЯ, ТРАНЗАКЦІЙНИЙ ГРАФ, НЕСПРАВНІСТЬ, ФУНКЦІАНАЛЬНЕ ПОКРИТТЯ, ДІАГНОЗОПРИДАТНІСТЬ, АССЕРЦІЯ, МОДЕЛЮВАННЯ This work examines existing methods of faults searching and submitted infrastructure and technologies of digital scheme analysis. Described the diagnosis model of System-on-Chip as multi-tree and tree bypass method. These model and method have increase productivity of software and hardware. KEYWORDS: SYSTEM-ON-CHIP, DIAGNOSIS, TAB-MATRIX, TRANSACTIONAL GRAPH, DEFECT, FUNCTIONAL COVERAGE, DIAGNOSIS AVAILABILITY, ASSERCION, MODELING
