дифракція, дифракция, diffraction, diffraction ; електронний мікроаналіз, электронный микроанализ ; мас-спектроскопія, масс-спектроскопия ; наноплівки, нанопленки ; нанотехнології, НТ, нанотехнологии, nanotechnology ; радіонукліди, радионуклиды ; скануюча зондова мікроскопія, СЗМ, сканирующая зондовая микроскопия ; спектрометрія, спектрометрия ; спектроскопія, спектроскопия, spectroscopy, Spektroskopie, spectroscopie

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

• УДК // Нанотехнологія
• УДК // Ніздрювата структура. Плівки, Тонкі плівки. Променеві структури