| | Мурыгин, В. И. Барьерная емкость диодных структур на основе компенсированных полупроводников с глубокими примесными уровнями [Текст] / В.И. Мурыгин, В.В. Лосев, В.Б. Гундырев // Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. — М., 2003. — №4. — С.13-19. |
| | |
|