Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Мурыгин, В. И.
    Барьерная емкость диодных структур на основе компенсированных полупроводников с глубокими примесными уровнями [Текст] / В.И. Мурыгин, В.В. Лосев, В.Б. Гундырев // Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. — М., 2003. — №4. — С.13-19.


- Ключові слова:

фізика напівпровідників, физика полупроводников ; наукові дослідження, научные исследования

- Анотація:

Показано, что для компенсированного полупроводника с глубокими примесными уровнями неравновесная плотность объемного заряда в уравнении Пуассона можно заменить эфективной равновесной плотностью объемного заряда. в которую входят равновесная концентрация свободных носителей заряда и равновесные концентрации ионов и нейтральных атомов примеси. Это позволяет для нахождения ширины области объемного заряда и барьерной емкости контакта металл-полуповодник и несимметричного резкого р-n перехода использовать известные формулы, аналогичные формулам для некомпенсированного полупроводника. Полученная зависимость барьерной емкости от напряжения смещения сопоставляется в основном с результатами экспериментальных исследований вольтфарадных характеристик различных структур из карбида кремния

- Є складовою частиною документів:

Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки   Перейти на сайт
Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського   Перейти на сайт