Рассмотрены методы отображения информации о развитии дефектов, проявляемых как технологическая наследственность электронной техники. Предлагается модель процесса развития дефектов, разработанная на основе термодинамического подхода, который устанавливает соответствие между реальным и отображаемым объектами
