Опис документа

Киргизова, А. В.
Методика и результаты экспериментальных исследований сбоеустойчивости КМОП КНС оперативных запоминающих устройств при импульсном ионизирующем воздействии [Текст] / А.В. Киргизова, А.В. Яненко, А.Ю. Никифоров // Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. — М., 2005. — №3. — С.29-32.

- Ключові слова:

напівпровідникові прилади, полупроводниковые приборы, semiconductor devices

- Анотація:

Представлены экспериментальные исследования зависимости уровня сохранности информации КМОП КНС БИС статических ОЗУ при воздействии импульсного лазерного излучения в зависимости от кода хранимой информации и напряжения питания. показано, что уровень сохранности информации в БИС ОЗУ зависит от хранимого в матрице памяти информационного кода и наиболее критичным режимом при воздействии может являться режим хранения кода "диагональ"

- Є складовою частиною документів:

- Теми документа

УДК // Мікроелектроніка. Інтегральні схеми

Наявність

Установа Кількість Документ на сайті установи

Науково-технічна бібліотека Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського Перейти на сайт

Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки Перейти на сайт