Зведений каталог бібліотек Харкова
Хаханова, И. В. Топологический метод анализа дефектов [Текст] / И.В. Хаханова, И.Н. Чугуров, А.Н. Парфентий // Радиоэлектроника и информатика : научно-технический журнал. — Харьков, 2003. — 4. — С.69-74.
- Ключові слова:
- Анотація:
Предлагается быстродействующий метод моделирования неисправностей, использующий предварительное разбиение модели цифрового устройства на линии сходящихся разветвлений и древовидные структуры
- Зміст:
Компьютерная инженерия и техническая диагностика
- Є складовою частиною документа:
Радиоэлектроника и информатика [Текст] : научно-технический журнал. — Харьков, 2003. — 4.
- Теми документа