Зведений каталог бібліотек Харкова
Щербачев, К. Д. Атомная структура и методы структурных исследований [Текст] / К.Д. Щербачев, В.Т. Бублик, А.В. Курипятник // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники : научный журнал. — М., 2004. — №4. — С.71-74.
- Ключові слова:
- Анотація:
Методом рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения исследованы особенности образования устойчивых радиационных дефектов в тонком слое кремния структур
- Є складовою частиною документа:
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники [Текст] : научный журнал. — М., 2004. — №4.
