Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Suzuki, K.
    Estimating Lateral Straggling of Boron Profiles Ion Implanted Into Crystalline Silicon With a Tilt Angle of 0 deg Using Off-Angle Substrates [Електронний ресурс] [Текст] / K. Suzuki, K. Tanahashi, S. Nagayama та ін. // IEEE Transactions on Electron Devices . — USA, 2006. — 5. — Pp. 1262-1265.


Автор: Suzuki K., Tanahashi K., Nagayama S., Magee C.W., Buyuklimanli T.H., Iwamoto E.

- Ключові слова:

кремній, кремний

- Анотація:

Boron was ion implanted into .. off-angle crystalline silicon substrates with a tilt angle of ... It is assumed that the B profiles along the ion-beam direction are identical, enabling the lateral straggling of B ion implanted with a tilt angle of 0. to be evaluated experimentally for the first time. Themeasurements show that the lateral straggling of channeling ions is small.

- Електронні версії документа:

- Є складовою частиною документа:

Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки   Перейти на сайт