Call for Papers—2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures [Електронний ресурс] [Текст] // IEEE Transactions on Electron Devices . — USA, 2006. — 6. — Pp. 1500.

Наявність
Установа	Кількість	Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки		Перейти на сайт