Зведений каталог бібліотек Харкова

 

Л46Лєншин, Лєншин Анатолій Валерійович.
    Методи та моделі оцінювання зрілості процесів інформації [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.21 "Системи захисту інформації" / Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. — Харків, 2006. — 209 с.


- Ключові слова:

криптографічний захист інформації, КЗІ, криптографическая защита информации, КЗИ ; експертні оцінки, экспертные оценки ; технічний захист інформації, ТЗІ, техническая защита информации, ТЗИ ; нечіткі множини, нечеткие множества ; інформаційна безпека, ІБ, информационная безопасность, ИБ, information security ; захист інформації, защита информации, information security ; програмне забезпечення, ПЗ, программное обеспечение, ПО, software, Software, logiciel

- Анотація:

Дисертаційна робота присвячена питанням удосконалення організаційних методів захисту інформації шляхом розробки методів та моделей оцінювання зрілості процесів захисту інформації (ПЗІ). Розробляються модель та аналітичний вираз оцінки цільової зрілості ПЗІ, метод визначення відносної зрілості ПЗІ, що можуть мати різну цільову зрілість та складатися з довільної кількості підпроцесів, критерії черговості підвищення зрілості ПЗІ. Розробляється метод розв'язання задач контролю зрілості на основі використання методів комбінаторно-множинного аналізу. Обґрунтовується можливість врахування ступеня невизначеності в експертних оцінках (ЕО) зрілості ПЗІ за рахунок використання теорії суб'єктивної логіки. Розробляється метод оцінювання поточної зрілості ПЗІ. Обґрунтовується можливість надання ЕО та отримання узагальнених оцінок природною мовою завдяки розбиттю множини ЕО на підмножини за співвідношенням рівнів довіри, недовіри та невизначеності. Вперше будуються функції належності до зон базових думок у просторі

- Теми документа

  • Праці співробітників ХНУРЕ // Лєншин Анатолій Валерійович, Леншин Анатолий Валерьевич
  • УДК // Програмне забезпечення



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки 1 Перейти на сайт