|
-
Ключові слова:
випромінювання, излучение, Strahlung ; вимірювальна техніка, измерительная техника, Messtechnik, measurement technique ; вимірювальні перетворювачі, ВП, измерительные преобразователи, ИП ; нанотехнології, НТ, нанотехнологии, nanotechnology ; вимірювання, измерения, la mesure, measurements
-
Анотація:
Представлено развитие методики сканирующей емкостной микроскопии для исследования нанобъектов на поверхности подложек. Показана возможность визуализации поляризованных углеродных нанотрубок, практически невидимых в обычных топографических модах.
-
Є складовою частиною документів:
-
Теми документа
-
УДК // Електроніка. Мікроелектроніка
|
