Зведений каталог бібліотек Харкова

 

О-52Оксанич, Оксанич Анатолий Петрович.
    Методы и аппаратура контроля структурно-геометрического совершенства полупроводниковых материалов и структур в условиях их серийного производства [Текст] : дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.06 "Технология, оборудование и производство электронной техники" / Ин-т экономики и новых технологий. — Кременчуг, 2002. — 296 с.


- Ключові слова:

дислокація (техн.), дислокация ; кремній, кремний ; монокристали, монокристаллы ; напівпровідникові матеріали та вироби, полупроводниковые материалы и изделия ; розплави металів, расплавы металлов ; структура, structure

- Анотація:

Цель диссертационной работы - разработка научно-обоснованных экспрессных методов контроля деформаций, механических напряжений, структурного совершенства и создание на их основе измерительного, ростового оборудования и аппаратуры для контроля структурного совершенства полупроводниковых кристаллов как в процессе роста, так и на выходном контроле.

- Теми документа

  • УДК // Провідники з дуже великим опором. Напівпровідники



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Наукова бібліотека Харківського національного університету радіоелектроніки 1 Перейти на сайт