|
-
Ключові слова:
верифікація, верификация ; діагностування, диагностирование ; кристали, кристаллы, Krisrtalle, crystals ; тестопридатність, тестопригодность ; технологія граничного сканування, технология граничного сканирования ; цифрові системи, цифровые системы, digital system ; TADATPG ; Boundary scan ; AD-HOC
-
Анотація:
Использование разработанных в диссертационной работе методов анализа тестопригодности позволяет существенно уменьшить время тестирования цифровых устройств за счет замены процедуры моделирования неисправностей анализом тестопригодности и выявлением в схеме узких мест на основе полученных показателей и дальнейшей модификации устройства. Анализ тестопригодности выполняется в течение нескольких секунд на схемах размерностью до 50000 вентилей, в то же время для моделирования неисправностей требуется от нескольких часов до нескольких суток.
-
Теми документа
-
УДК // Автомати
-
УДК // Пристрої для управління. Пристрої контролю та перевірки. Пристрої профілактичної перевірки
|
