Конструювання електричного кола

Підтеми:

Окремі точки електричного кола. Точки для вимірювання параметрів кола
Механічна конструкція. Конструктивні матеріали та компоненти

Документи:

Автоматизированная установка для получения наноразмерных покрытий методом полиионной сборки [Текст] / Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского // Приборы и техника эксперимента : научный журнал / РАН. — С. 115-120.
Алгоритм управления температурным режимом в быстрых термических процессах. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники. // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 46-51.
Анализ помех, влияющих на задержку прохождения сигнала в цифровых СБИС, на основе логических ограничений. [Текст] / Институт проблем проэктирования в микроэлектронике РАН, г.Москва. // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 61-68.
Аргументированная детализация новой концепции о переходных процессах в электрических цепях [Текст] / А.Е. Божко // Доповіді Національної Академії наук України : науково-теоретичний журнал / Президія НАН України. — С. 81-87.
Влияние скорости поверхностной рекомбенации на относительную чувствительность биполярного магнитотранзистора. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 27-31.
Датчики давления прямого преобразования [Текст] / В.Я. Распопов // Датчики и системы : научно-технический и производственный журнал / Инт- проблем управления РАН, МГ ИЭМ, Ассоциация "МВТК". — М., 2007. — С. 15-18.
Двухволновая рентгеновская рефлектометрия пленок металлов и силицидов на кремнии [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 27-34.
Закономерности "теплового размещения" электрорадиоэлементов на платах с четырехсторонним кондуктивным теплоотводом. [Текст] / ФГУП "НИИ"Аргон" // . — С. 2-9.
Значение процесса отмывки при производстве электронных узлов [Текст] / Г. Шведюк // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2004. — С. 147-150.
Инженерный метод идентификации параметров "Spice-моделей" [Текст] / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск // Информационные технологии. — 2007. — С. 17-21.
Использование двухмерного приборно-технологического моделирования для разработки и оптимизации технологии изготовления КМОП [Текст] / А.Н. Еременко, Н.А. Зайцев, И.М. Романов // Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. — М., 2003. — №4. — С.44-48.
Использование эффекта понижения температуры плаления тонких пленок меди в процессе заполнения канавок и контактных окон для технологии многоуровневой металлизации кремниевых ИС. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) // Известия вузов. Электроника. — 2004. — С. 3-9.
Использование нейронных сетей в задачах прогнозирования деградации выходных параметров ИС. [Текст] / Воронежский государственный технический университет. // . — С. 44-52.
Исследование конструктивной погрешности сопротивления тонкопленочного резистора. [Текст] / НПП "Темп-Авиа" // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 95-96.
Исследование токораспределения в биполярных транзисторах электрофлуктуационным методом. [Текст] / Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники РАН. // . — С. 26-33.
Исследование физико-химических свойств стекловидных материалов системы SrO-Al2O3-B2O3 [Текст] / Е.В. Ильяшева // . — C. 16-20.
Исследование MOSFET-транзисторов в различных геометричных корпусах для поверхностного монтажа [Текст] / И.И. Рубцевич, Л.П. Ануфриев, А.Ф. Керенцев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре : научно-технич. журнал / АО "Нептун". — С. 54-55.
Квазипланарный двухтактный генератор К-диапазона с малым уровнем фазового шума, стабилизированный полым резонатором [Текст] / И.С. Цвелых // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника : научно-технический журнал. — К., 2014. — №9. — С. 55-60.
Маршрут проектирования с автоматической конвертацией проектов синхронных СБИС в асинхронные [Текст] / Технологический институт Южного федерального университета , г.Таганрог, Россия // Известия вузов. Электроника. — 2009. — С. 18-25.
Математичні моделі мікрорезонаторів електростатичного типу для вбудованих систем [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.05.02 "Математчне моделювання та обчислювальні методи" / МОН України. Нац. ун-т "Львівська політехніка". — Львів, 2006. — 20 с.
Методологічні основи проектування технологій компонентів мікроелектромеханічних систем [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.06 "Технологія, обладнання та виробництво електронної техніки" / М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. — Харків, 2016. — 43 с.
Метод проектирования быстродействующих асинхронных цифровых устройств с малым энергопотреблением [Текст] / Технологический институт Южного федерального университета, г.Таганрог, Россия // . — С. 48-53.
Метод проектирования систем - на - кристалле на основе сетевых алгоритмов. [Текст] / Таганрогский государственный радиотехнический университет // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 49-53.
Методы повышения эффективности временного анализа СБИС [Текст] / Институт проблем проектирования в мткроэлектронике РАН, г.Москва // Информационные технологии. — 2006. — С. 2-12.
Механизмы чувствительности биполярного магнитотранзистора. Ч.1 [Текст] / Р.Д. Тихонов // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 39-44.
Механизмы чувствительности биполярного магнитотранзистора. ч.2 [Текст] / Научно-производственный "Технологический Центр" МИЭТ // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 55-59.
Микроэлектронный датчик влажности [Текст] / М.И. Горлов, Д.Л. Ануфриев, Н.А. Шишкина // Датчики и системы : научно-технический и производственный журнал / Инт- проблем управления РАН, МГ ИЭМ, Ассоциация "МВТК". — М., 2007. — С. 23-26.
Моделирование интегральных магниточувствительных схем на основе магниторезисторных элементов [Текст] / ЗАО "Дизайн центр "Союз" // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 56-64.
Модифицированный алгоритм "теплового размещения" элекрорадиоэлементов на платах с четырехсторонним кондуктивным теплоотводом [Текст] / В.З. Коротков // Информационные технологии. — 2006. — С. 2-9.
Мультиплексор для охлаждаемого гибридного многоэлементного приемника ИК-излучения. [Текст] / ЗАО "Матричные технологии", г.Москва. // . — С. 18-24.
Обзор алгоритмов поиска кратчайших путей в задачах сжатия топологии ИС [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 36-55.
Обнаружение ложных путей в цифровых схемах на основе логических импликаций [Текст] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН // . — С. 78-84.
О некоторых возможностях улучшения метрологической прослеживаемости линейных измерений в нанометровом диапазоне [Текст] / Институт метрологии Национального Агенства Грузии по стандартам, техническому регулированию и метрологии, Грузия. // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 17-22.
Особенности построения умножителей по модулю (2(n)-1). [Текст] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН, г.Москва. // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 55-59.
Отечественное оборудование для сборочного производства печатных узлов [Текст] / В. Кузьмин, Е. Кузьмина // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2004. — С. 71-77.
Подготовка и сборка микромеханических элементов с емкостной системой съема перемещений. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // . — С. 92-93.
По одной колее [Текст] / Г. Моретти // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2004. — С. 39-42.
Приборно-технологическое моделирование при разработке изделий микроэлектроники и микросистемной техники. [Текст] / М.А. Королев, Т.Ю. Крупкина, Ю.А. Чаплыгин // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 64-71.
Принципы построения датчиков давления и топология тензорезисторов [Текст] / В.Я. Распопов // Датчики и системы : научно-технический и производственный журнал / Инт- проблем управления РАН, МГ ИЭМ, Ассоциация "МВТК". — М., 2007. — С. 22-26.
Прототипное производство печатных плат: новый подход от компании "Резонит" [Текст] / А. Кучерявый // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2004. — С. 143-145.
Размещение электрорадиоэлементов на платах устройств рамочных конструкций с принудительным воздушным охлаждением [Текст] / В.З. Кокотов // Информационные технологии : научно-технич. и научно-произв.журнал. — М., 2005. — 4. — С.37-47.
Разработка режима осаждения пленок SiO2 в плазмостимулированном ТЭОС -процессе. [Текст] / НИИ системных исследований РАН // Известия вузов. Электроника. — 2004. — С. 16-24.
Расчет индуктивности корпуса для СВЧ интегральных микросхем. [Текст] / В.П. Тимошенков // . — С. 18-22.
Рентгеновский контроль как средство диагностики и локализации дефектов современных печатных узлов [Текст] / С. Гафт // Электронные компоненты. — М. : ЗАО "КОМПЭЛ", 2004. — С. 61-64.
Согласованные уголковые повороты в микрополосковых линиях на керамиках с высокой диэлектрической проницаемостью [Текст] / И.Н. Кузовкин, А.С. Петров // Успехи современной радиоэлектроники. — 2004. — С. 30-36.
Состояние и перспективы развития технологии кремниевых гетеропереходных биполярных транзисторов для СВЧ применений [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 19-26.
Способ оценки неидентичности конденсаторов в блоке подстройки частоты кварцевого генератора. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники. // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 68-75.
Справочное пособие по цифровой электронике [Текст] : пер. с англ. / М. Тули. — М. : Энергоатомиздат, 1990. — 176 с.
Статистический подход к временному анализу цифровых схем [Текст] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН, г.Москва // Известия вузов. Электроника. — 2006. — С. 99-106.
Структура и основные элементы системы виртуального производства. [Текст] / Московский государственный институт электронной техники. // Известия вузов. Электроника. — 2005. — С. 52-55.

1 2