Електронно- мікроскопічні методи дослідження/Электронно-микроскопические методы исследования/Electronic and microscopic methods of research
Підтеми:
Документи:
- Акустическая эмиссия при соударении твердых тел. Часть 1 [Текст] / РНЦ "Курчатовский Институт" (ДИАПК), г.Москва, Россия // . — С. 18-24.
- Акустическая эмиссия при соударении твердых тел. Часть 2. Дисперсионное распространение волн [Текст] / РНЦ Курчатовский институт (ДИАПАК), Россия // Контроль.Диагностика : журнал Российского общества по неразрушающему контролю и технической диагностике (РОНКТД). — М. : Машиностроение, 2010. — С. 23-28.
- Анализ эффективности оптического метода контроля капилляров. Экспериментальные исследования цифровой регистрации световых меток [Текст] / В.Е. Махов, А.И. Потапов // Справочник. Инженерный журнал. — 2013. — С. 52-56.
- Анализ эффективности оптического метода контроля капилляров. Теоретические основы оптического контроля капилляров [Текст] / В.Е. Махов, А.И. Потапов // Справочник. Инженерный журнал. — 2013. — С. 48-56.
- Анализ структуры СБИС с применением метода фокусированного ионного пучка, электронной и оптической микроскопии [Текст] / Н.И. Боргардт, Н.В. Алексеев, Р.Л. Волков // Известия вузов. Электроника. — 2011. — С. 91-98.
- Будова й властивості великокутових спеціальних внутріфазних і міжфазних границь у металах і сплавах промислового виробництва [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.02.01- матеріалознавство / Придніпровська держ. академія буд-ва та архітектури. — Д., 2007. — 36 с.
- Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов [Текст] : справочник / АН Белорусской ССР, Физико-технический ин-т, Астапчик С.А. — Минск : Наука и техника, 1989. — 208 с.
- Электронный микроскоп [Текст] / Д.Д. Галанин // Наука и жизнь : научно-популярный журнал / Ред.журн."Наука и жизнь". — С. 3-5.
- Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе [Текст] / Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 12-14.
- Изображение тест-объекта ширины линии в РЭМ при разных энергиях электронов зонда [Текст] / Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 20-23.
- Исследование характеристик кантилеверов атомно-силовых микроскопов [Текст] / Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 17-19.
- Калибровка АСМ по трем координатам с использованием одного аттестированного размера [Текст] / Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 13-15.
- Классификация тест-объектов для калибровки растровых электронных микроскопов в нанометровом диапазоне [Текст] / Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН, Москва, Россия // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 22-26.
- Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии [Текст] / П.А. Тодуа // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 5-10.
- Механические характеристики безвольфрамовых твердых сплавов (обзор) [Текст] / М.Г. Лошак, Л.И. Александрова // Проблемы прочности : Международный научно-технический журнал. — С. 138-148.
- Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей [Текст] / Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 17-21.
- Особенности , методика и преимущества интегрального метода исследования структур наноразмерных кристаллитов в электронной микроскопии. I. Физические основы метода [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 85-94.
- Особенности, методика и преимущества интегрального метода исследования текстур наноразмерных кристаллитов в электронной микроскопии. II. Практическая реализация метода [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 47-54.
- Проблемы текстурированности в нанотехнологии. Контроль текстур [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 49-55.
- Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого [Текст] / А.Г. Держипольский, Д.А. Меленевский // Наука та інновації : український оглядовий журнал майбутнього: науково-практичний журнал. — К., 2012. — С. 39-42.
- Прямое измерение ширины линии на атомно-силовом микроскопе [Текст] / Институт общей физики им. М.А. Прохорова РАН // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 10-12.
- Сканирующий ионный гелиевый микроскоп [Текст] / Ю.В. Петров // Наука та інновації : український оглядовий журнал майбутнього: науково-практичний журнал. — К., 2012. — С. 23-25.
- Структура і властивості хрому, осадженого методами вакуумного розпилення [Текст] / Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України, Київ // Металознавство та обробка металів : науково-технічний журнал / Фізико-технологічний ін-т металів та сплавів НАНУ. — К. : НТУ "КПІ", 2008. — С. 13-17.
- Структуроутворення та властивості продуктів розпаду пересиченого аустеніту маловуглецевих мікролегованих будівельних сталей [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.01 - матеріалознавство / Держ. вищ. навч. заклад "Придніпр. держ. акад. буд-ва та архіт". — Дніпропетровськ, 2012. — 24 с.
- Тест-объект с тремя аттестованными размерами ширины линии для растровой [Текст] / Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума // Измерительная техника : научно-технический журнал / Госком РФ по стандартизации и метрологии. — С. 49-52.
- Фотоэлектрические микроскопы для отсчета и наведения по штриховым шкалам [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук / Моск. ин-т электрон. машиностроения. — М., 1965. — 16 с.
|
