Архітектурні рішення для паралельної обробки
Підтеми:
Документи:
- Анализ механизмов синхронизации потоков для систем-на-кристалле с большим числом вычислительных ядер [Текст] / Ф.М. Путря, И.А. Медведев // Известия вузов. Электроника. — 2011. — С. 58-63.
- Архитектурные особенности процессоров с большим числом вычислительных ядер [Текст] / МИЭТ, г.Москва, Россия // . — С. 2-7.
- Вопросы кибернетики [Текст] : [сб. ст.] / АН СССР, Науч. совет по комплекс. проблеме "Кибернетика" ; [ред. совет: А. П. Ершов (пред.) и др.]. — Москва, 1990. — 160 с.
- Вопросы кибернетики [Текст] : cб. ст. / АН СССР, Науч. совет по комплекс. пробл. "Кибернетика". — Москва, 1991. — 170 с.
- Имитационная модель векторного процессора на примере задачи поиска пути в графе [Текст] / Н.Л. Вереник, А.И. Гирель, Е.Н. Сейткулов, М.М. Татур // . — С. 89-100.
- Методы моделирования и дискретной оптимизации вычислительных систем реального времени [Текст] : монография / под ред. В.Я. Жихарева. — Х.; Житомир : ЖГУ, 2004. — 490 с.
- Модель оценки надежности гетерогенной вычислительной сети клиент-серверной архитектуры [Текст] / С.Н. Ефимов, В.В. Тынченко, В.С. Тынченко // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. — 2012. — С. 241-243.
- Оценка надежности Грид-систем [Текст] / С.Н. Ефимов, В.В. Тынченко, В.С. Тынченко // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. — 2012. — С. 20-22.
- Практические аспекты реализации многопоточного сервера приложений [Текст] / П.П. Олейник // Информационные технологии. — 2007. — С. 47-50.
- Применение генетического алгоритма для определения архитектуры нейронной сети для прибора вида "электронный нос" [Текст] / В.С. Дыкин, В.Ю. Мусатов, А.С. Варежников та ін. // Информационные технологии. — 2015. — С. 895-900.
- Принципы пространственной визуальной компоновки аналитических моделей, отображенных в воксельном графическом пространстве [Текст] / Е.А. Лоторевич // . — С. 59-63.
- Симулятор многоядерной вычислительной системыы и примеры его применения [Текст] / Московский государственный институт электронной техники // Известия вузов. Электроника. — 2008. — С. 72-77.
|