спектроскопічні методи досліджень, спектроскопические методы исследований ; тонкі плівки, тонкие пленки, thin films ; оптична спектроскопія, оптическая спектроскопия
Об'єкт дослідження - плівкові структури та структуровані матеріали різного складу та властивостей, які можуть змінювати електричні та магнітні властивості під дією зовнішніх полів та які слугуватиме для створення електронних приладів нового покоління .
Мета роботи - розробка і вдосконалення у відповідності із сучасними вимогами методів досліджень і вимірювання характеристик нових типів структур, з'ясування на основі цих вимірювань механізмів деяких фізичних ефектів із визначенням оптимальних параметрів структурованих матеріалів та отримання нових структур, що придатні для розробки нових приладів наноелектроніки.
Методи досліджень - експериментальні: оптична спектроскопія, магнітооптичні, дифракція повільних електронів, спектроскопія характеристичнихвтрат енергії електронів, електронна мікроскопія, скануючий тунельний мікроскоп, атомний силовий мікроскоп, інфрачервоний мікроскоп, а також методи математичного (комп'ютерного) моделювання.
Отримані нові структури із фотомагнітними властивостями, придатні для розробки пристроїв сучасної електроніки, вдосконалені методи дослідження та технології виготовлення наноструктурованих матеріалів, розроблено механізм фото індукованих магнітних ефектів в наноструктурованих матеріалах, розроблені схеми застосування матеріалів з фотомагнітними властивостями в пристроях сучасної електроніки, отримані та досліджені нові магнітні матеріали із забороненою фотонною зоною.
Результати НДР впроваджено в навчальний процес радіофізичного факультету Київського національного університету імені Тараса Шевченка.
Додаток А.
Додаток Б Проміжний звіт за 2001р.
Додаток В Проміжний звіт за 2002р.
Додаток Г Проміжний звіт за 2003р.
Додаток Д Проміжний звіт за 2004р.
