Розглянуто вплив діелектричної підкладки на властивості резонансних детекторів міліметрового діапазону з джозефсонівськими контактами, що інтегровані в мікросмужкову лінію. Визначено оптимальні параметри підкладок на основі кремнію для побудови таких систем.
The influence of dielectric substrate on performance of resonance mm-wavelength detectors with Josephson junctions has been analyzed. Optimal parameters of silicon substrate have been estimated from theoretical and measurement results.
