В статті на підставі аналізу діаграми стану запропонована методика, яка дозволяє визначити умови проведення жидкофазної епітаксії монокристалічних шарів складних сполук для створення високочутливих та високонадійних детекторів, радіаційного випромінювання.
The article proposes a methodic, on the based on a state diagram analysis, to determine the conditions for conducting a liquid-phase epitaxi of monocristal layers of complex compounds to create high-sensitivity and high-reliability radiation exposion detectors.
