Розглянуто новий перспективний метод визначення концентрацій елементів-домішок у мікрокристалах акцесорних мінералів - XRF-MP/SG (single grain milliprobe X-ray fluorescence analysis). Метод зіставлений із сучасними локальними методами (ЕМР, РМР, SHRIMP,SXRF, LAM-ICP-MS). Запропоновано шлях вирішення проблеми XRF-MP/SG - залежності флуоресцентного випромінювання не тільки від складу мікрокристалу, а й від форми та розміру зразка, яка впливала на точність аналізу. Продемонстровано можливість використання методу для вирішення важливих теоретичних і прикладних наукових завдань .
The new promising method of trace element concentration determination in accessory minerals - XRF-MP/SG (single grain milliprobe X-ray fluorescence analysis) is considered. The method is compared with the modem microbeam methods (EMP, PMP,SHRIMP,SXRF, LAM-ICP-MS). The solution of XRF-MP/SG problem - the x-ray fluorescence dependency on microcrystal composition, form and size - is proposed. The possibilities of method application in the solution of the important theoretical and practical scientific problems are demonstrated.
