Розроблена загальна схема побудови трьохпроменевого диференційно-фазового скануючого мікроскопу з акустооптичною розгорткою для дослідження фазових об"єктів з довільною формою поверхні. Розглянуті основні принципи роботи цієї схеми, а також труднощі, щовиникають при її побудові. Виявлений вплив оптичної схеми мікроскопу та оптичної анізотропії елементів, що входять в цю схему, на вигляд його диференційно-фазової характеристики. Показано, що залежність додаткового набігу фаз від кута розгортки носить лінійний характер і в деяких випадках може бути скомпенсована оптичними елементами схеми мікроскопа. Визначена можливість отримання лінійної диференційно-фазової характеристики вздовж двох координат сканування при умові розташування акустооптичних елементів у вузлових точках схеми.
