Зведений каталог бібліотек Києва
ТитарчукббТитарчук, Б. Б. Вимірювання параметрів шорсткості поверхні анодованого алюмінію оптичним методом [Текст] / Б.Б. Титарчук, І.А. Шайкевич, А.І. Шарапа // Вісник Київського університету. — Київ, 2000. — 2000. — С. 487-490.
- Ключові слова:
- Анотація:
Запропоновано оптичний метод вимірювання параметрів шорсткості поверхні. Створений оптико-електронний пристрій для фотометричних кутових вимірювань. Метод застосовано для знаходження параметрів шорсткості пластинки анадованого алюмінію.
- Є складовою частиною документа:
Вісник Київського університету [Текст]. — Київ, 2000. — 2000. — 549 с.
- Теми документа