Лєнковсв	Лєнков, С. В.     Порівняльний аналіз методів контролю оптичних властивостей напівпровідників, які використовуються в елементах оптоелектроніки інфрачервоного діапазону [Текст] / С.В. Лєнков, М.І. Гаркавенко, В.В. Видолоб // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. — Київ : ВІКНУ, 2006. — Вип. № 2. — С. 88-93.