Проведені розрахунки спектральних залежностей еліпсометричних параметрів, а саме азимута відновленої лінійної поляризації У [...] і зсуву (раз між р і s компонентами відбитої хвилі [...], для тонких плівок молібдену (Мо), напилених на кварцові (SiO2) тасапфірові (Аl2O3) підкладки з перехідним шаром окису MoO3 на межі поділу металічна плівка - діелектрична підкладка. Цей перехідний шар відповідає за адгезію плівки Мо до підкладки. Розрахунки проводились за формулами Ейрі в конфігурації збудження поверхневих поляритонів за методом Кречмана. Одержані результати показали, що еліпсометричні вимірювання при збудженні поверхневих поляритонів дають можливість досліджувати перехідні шари між плівкою Мо і підкладкою з кварцу чи сапфіру товщиною до 0,1 нм. Крімтого, залежності tgУ [...] від довжини хвилі А[...] дають можливість виявити і дослідити міжзонні переходи в молібдені.
Ключові слова: еліпсометричні досудження, поляритони, азимут відновленої лінійної поляризації У [...], зсув фаз А[...].
Performed spectral dependencies calculations of elipsomelric parameters such us azimuth of recovered linear polarization Y[...] and phase shift between p and s components in reflected wave Л for thin Mo films-sapphin or quarts insulator substrate with transition coal of МоОз oxide at metal film-insulator substrate interface. This transition responsible for film to substrate adhesion.
Calculations was performed using Eyri"s formulas in configuration with Krechmans method stimulated surface polaritons. It is shown, that polariton elipsometric methods allows researching transition layers between Mo film and sapphire or quart: substrate with minimum thickness 0,1 mm. Also, dependencies tgV of wavelength A [...] allots discover and research interband transitions in molybdenum.
Key Words: elipsometric research, polarilons, an azimuth of recovered linear polarization Y [...], a phase shift A[...].
