Розраховані спектральні залежності еліпсометричних параметрів при збудженні поверхневих поляритонів за методом Кречмана для плівок високо провідних металів Аи, Ag, Си і Аl. Розрахунки проводились по формулам Ейрі. Одержані результати показали, що для всіх вищезазначених високо провідних металів на спектральних залежностях величини tg Ч [подано формулу], де Ч [подано формулу] - азимут відновленої лінійної поляризації, спостерігаються максимуми в ультрафіолетовій ділянці спектру, які співпадають по довжинам хвиль з максимумами на спектральних кривих оптичної провідності. Таким чином спектральні залежності еліпсометричних параметрів при збудженні поверхневих поляритонів можуть використовуватись для плівок високопровідних металів для дослідження міжзоннихпереходів.
Ключові слова:тонкі плівки, поверхневі поляритони, еліпсометричні параметри, спектральні залежності.
Spectral dependencies of ellipsometric parameters with excitation of surface polaritons with Kretschmann method for thin film of high conductive metals Au, Ag, Cu and AI were calculated. The calculations were carried on Airy formulas. Obtained results show that for all these high conductive metals at spectral dependencies of tgT Ч […] (Ч […] is azimuth of the restored linear polarization) there are maximums at ultraviolet region. Wavelengths of these maximums coincident with wavelengths of maximums at spectral dependencies of optical conductivity for these films. So, spectral dependencies of ellipsometric parameters of high conductive thin films with excitation of surface polaritons may be used for investigation of interband transitions at high conductive metal films.
Key Words: thin films, surface polaritons, ellipsometric parameters, spectral dependencies.
