Методом просвічуючої електронної мікроскопії досліджувались багатостінні вуглецеві нанотрубки (БВН) діаметром від 1 нм до 11 нм. Спостерігались БВН, що були деформовані без присутності зовнішніх сил. Оцінені величини напружень. Пояснено механізм вигину нанотрубок. В БВН зовнішній шар вуглецю може бути частково зруйнованим і це викликає напруження, що змушують нанотрубку вигинатись.
Ключові слова: вуглецеві нанотрубки, електронний мікроскоп, залишкові напруги.
Multiwall carbon nanotubes (MWCNT) were investigated using ТЕМ. MWCNT with a diameter from 1 nm up to 11 nm were observed. Stress values in different nanotube sections were appreciated. We observed nanotubes which were bended without presence of external forces. The mechanism of nanotubes bending was explained, and also values of forces which deled on nanotubes were appreciated In MWNT the external sphere of carbon can be partially destroyed and it causes stress which makes nanotubes bended
Key Words: carbon nanotubes, electron microscopy, residual stress.
