Робота описує та порівнює різні методи вимірювання часу життя люмінесценції. Розглянуто часові та частотні методи оцінки часу життя. Запропоновано деякі модифікації класичних підходів до вимірювання. Модифіковані методи було вдало застосовано для виміручасу життя S-смуги спектру люмінесценції поруватого кремнію. Запропоновані схеми вимірювання спаду люмінесценції дозволяють створити чутливу та недорогу вимірювальну систему для вивчення кінетики люмінесценції нанокристалічних напівпровідників, що маютьширокий динамічній діапазон часу життя люмінесценції.
Ключові слова: TCSPC, люмінесценція, час життя.
This work describes and compares different methods of photoluminescence lifetime or decay time estimation. Time domain and frequency domain methods of lifetime estimation are examined. Several adjustments to the classical measurement approaches are proposed. The modified methods were successfully implemented for porous silicon photolumincscence (PL) slow-band lifetime measurement. The proposed modified schemes of photoluminescence decay time measurement allow constructing of sensitive and low-cost measurement systems to study the PL kinetics of nanocrystalline semiconductors having wide, dynamic range of PL lifetime.
Key Words: TCSPC, luminescence lifetime.
