Математичний формалізм матриць розсіяння розмірності 2x2 був використаний для обрахування багатопучковоі інтерференції в тонкій плівці. Використані матриці являються одночасно членами групи Лоренца. Інтерференція в плівці в цьому випадку може бути описана як траєкторія на фазовій площині яка відповідає конкретній геометрії перетворення Лоренца. Три основні випадки тонких плівок: поглинаюча, непоглинаюча і непоглинаюча з ненульовим градієнтом показника заломлення були змодельовані та проаналізовані. Отримані
результати важливі з точки зору оберненої спектральної та еліпсометричної задач.
Ключові слова: група Лоренца, тонкі плівки, інтерференція, матриці
розсіяння.
A mathematical formalism of 2x2 dimensional scattering matrices has been used to calculate multiray interference in a thin film. The matrices could be considered simultaneously as members of Lorentz transformation group. The interference in the film was proposed to be described as a trajectory on a phase plane which corresponds to a particular Lorentz geometry. Three main cases of different films: absorbing, non-absorbing and non-absorbing with nonzero refractive index gradient, were calculated and analyzed. The results are important from the point of view of inverse spectral and ellipsometric tasks.
Key words: Lorentz transformation group, thin films, interference, scattering matrices.
