оптична спектроскопія, оптическая спектроскопия ; інтерференція (лінгвістика), интерференция, interference ; спектри випромінювання, спектры излучения

Розвинуто метод аналізу спектрів відбиття, які мають смуги інтерференційного походження, для тонких поруватих наноструктурних шарів на кремнієвій пластині. Автоматичне обладнання дозволило досліджувати оптичні характеристики (коефіцієнт відбиття та коефіцієнт заломлення) у видимому та найближчому інфрачервоному (400-1100 nm) та інфрачервоному (350-4000 см[у мінус першому ступені]) діапазоні в поруватому кремнії, поруватому СоSi[нижній індекс 2] та поруватому Al[нижній індекс 2]O[нижній індекс 3] шарах.Спектри відбиття, що реєструвались під різними кутами падіння, дозволили визначити одночасно коефіцієнт заломлення та товщину шару. ТЕМ, AFM та IR спектроскопічні дослідження цих шарів підтвердили наявність кремнієвих нанокристалів.

Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка [Текст]. — Київ : ВПЦ "Київський університет", 2006. — 2006. — 109 с.

• Окремі фонди та колекції КНУ // праці авторів КНУТШ, труды авторов КНУТШ, работы авторов КНУТШ