Розглянуті поляри тонні властивості тонких металічних плівок двох типів, а саме плівок з високою провідністю таких, як Аl, Аu, Ag і Сu і плівок перехідних металів з меншою провідністю таких, як Cr, Ті, Ni. Розраховувались залежності еліпсометричних параметрів вищевказаних плівок від кута падіння світла при збудженні поверхневих поляритонів за методом Кречмана. Показано, що для плівок першого типу з високою провідністю і плівок другого типу поляритонні властивості сильно відрізняються. Дано пояснення цих відмінностей на основі електромагнітної теорії світла.
Ключові слова: поляритонні властивості, тонкі плівки, еліпсометричні параметри.
The polariton properties of thin metal films of two types of conductivity were considered. Films with high conductivity such as Al, Аu, Ag and Сu, films of transitive metals with smaller conductivity, such as Cr, Ті, Ni. The dependences of ellipsometric parameters on angle of incidence of light at excitation of surface polariton by Krechman"s method for above stated films were designed. It is shown, that for films of the first type with high conductivity and films of the second type the polariton properties considerably differ. The explanation of these differences on the base of the electromagnetic theory of light is given.
Key Words: polaritons properties, thin films, ellipsometric parameters.
