Запропонована методика обробки СТМ-зображень частково-впорядкованих інтерфейсів метал/впорядкована поверхня для вилучення кількісних характеристик впорядкованості. На прикладі СТМ-зображення інтерфейсу Bi/Si(111)7x7 з кількістю вісмуту 0,5 МШ проілюстровано застосування методики. Отримані кількісні характеристики стосовно переважного розташування острівців Ві та дана трактовка отриманих даних з урахуванням специфіки СТМ-зображень.
The STM-images processing method of partialy ordered metal/ordered surface interfaces for extraction of quantitative ordering characteristics is proposed. Utilizing of the method on STM-images of Bi/Si(111)7x7 interface with bismuth coverage 0,5 ML is illustrated. The quantitative characteristics concerning preferential placement of ВІ islands are obtained and explanation of obtained data is given with respect to STM-images peculiarities.
